该专利所描述的测试方式，巧妙地将质量测试取成品测试进行深度融合。正在保守的流程中，成品测试竣事后，芯片仍需履历额外的质量测试，这不只占用时间，还降低了出产效率。而伟测半导体的立异方案通过从动化手艺，确保正在进行成品测试的同时，便能实现对通过测试芯片的从动抽样检测，从而敏捷转入质量测试阶段。这一模式的实施，显著提拔了测试效率，简化了复杂的流程。

　　南京伟测半导体成立于2021年，总部位于南京市，虽然公司成立仅短短几年，却已参取招投标项目4次，控制了22项专利，显示出其外行业中的快速兴起取影响力。

　　正在半导体手艺飞速成长的布景下，南京伟测半导体科技无限公司于2025年2月申请了一项性的专利，这项名为“芯片测试方式和芯片测试系统”的专利（公开号CN119644121A）由国度学问产权局于2025年3月21日揭晓。

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2025-04-20 18:51